Применение метода микрорентгеноспектрального анализа (МРСА) к исследованию локальных неоднородностей в полупроводниковых материалов

А.Ф.Сидоров

печатн.Материалы докладов VI научно-технической конференции Кишиневского политехнического института,Кишинев, 1970 г., с. 214,