Применение метода микрорентгеноспектрального анализа (МРСА) к исследованию локальных неоднородностей в полупроводниковых материалов (1970) |
А.Ф.Сидоров
печатн.Материалы докладов VI научно-технической конференции Кишиневского политехнического института,Кишинев, 1970 г., с. 214,